1. Model: E8-XT
    2. Hãng, tên nước: FLIR – Mỹ
    3. Chức năng:Dùng để xác định sự thay nhiệt độ rất nhanh trên bề mặt vật liệu nên được sử dụng để đo độ truyền nhiệt, cách nhiệt của vật liệu dạng màng rất mỏng.
    4. Nơi lắp đặt:Phòng 209, nhà A12, Viện Kỹ thuật nhiệt đới, Viện Hàn lâm KH&CN (số 18 Hoàng Quốc Việt, Cầu Giấy, Hà Nội)
    5. Thông số kỹ thuật của thiết bị:
    • Dải nhiệt độ đo: -20°C đến 550°C (-4oF đến 1022oF) trong 2 dải đo
    • Độ phân giải IR: 320 × 240 (76,800 pixels)
    • Độ phân giải không gian (IFOV): 2.6 mrad
    • Trường nhìn (FOV): 45 ° × 34 °
    • Số F: 1,5
    • Tần số hình ảnh: 9 Hz
    • Phạm vi quang phổ: 7.5 μm
    • Điều chỉnh hình ảnh: Tự động điều chỉnh / khóa hình ảnh
    • Chế độ hình ảnh: Nhiệt MSX, nhiệt, hình ảnh, pha trộn nhiệt, máy ảnh kỹ thuật số
    • Độ chính xác: ± 2 °C (± 3.6 °F) hoặc ± 2% giá trị đọc cho nhiệt độ môi trường xung quanh 10°C - 35 °C (50°F đến 95°F) và nhiệt độ đối tượng đo trên 0°C (32°F)

6. Cán bộ phụ trách:

  • Nguyễn Trung Huy - ĐT: 0983817214
  • Nguyễn Văn Tráng - ĐT: 0367916577